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上海測(cè)宇科學(xué)儀器科技有限公司

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織構(gòu)和極圖

  在材料科學(xué)中,織構(gòu)表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機(jī)的被稱為隨機(jī)織構(gòu)。如果晶體取向不隨機(jī),而是有些擇優(yōu)取向,樣品則有弱,強(qiáng)和中等織構(gòu)??棙?gòu)程度取決于晶體擇優(yōu)取向的百分比??棙?gòu)存在于幾乎全部工程材料中,且對(duì)材料性能的影響很大??棙?gòu)經(jīng)常用"極圖"來(lái)表示。

系統(tǒng)

  • 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
  • 微區(qū)XRD: RAPID II
  • 多目的高性能XRD: Ultima IV
  • 全自動(dòng)XRD: SmartLab?