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上海測(cè)宇科學(xué)儀器科技有限公司

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殘余應(yīng)力分析

殘余應(yīng)力可能產(chǎn)生于材料的生產(chǎn)過(guò)程中或在運(yùn)作多年的結(jié)構(gòu)中積累。在這兩種情況下,這種壓力可以對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量,耐久性和壽命產(chǎn)生嚴(yán)重的負(fù)面影響。 在質(zhì)量控制和預(yù)測(cè)產(chǎn)品壽命中殘余應(yīng)力的精確檢測(cè)是尤為重要的。
X射線衍射(XRD)是目前無(wú)損精確測(cè)量殘余應(yīng)力的方法之一。此外,XRD提供了高分辨率非接觸測(cè)量方式。定期使用XRD檢測(cè)移動(dòng)部件表面或特別壓力點(diǎn)的殘余應(yīng)力。為了滿足這些要求,理學(xué)提供多種系統(tǒng),自由組合并滿足各種需要。

系統(tǒng)

  • 全自動(dòng)X射線應(yīng)力分析儀:AutoMATEIIMS
  • X射線應(yīng)力分析儀: PSPC/MSF, MSF/PSF-3M
  • 微區(qū)XRD: RAPID II
  • 多目的XRD: Ultima IV